薄膜測厚儀測試原理及操作方法介紹

　　薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離。對于微電子薄膜而言，如光學(xué)薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等，其厚度是一個非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。除此之外，薄膜的厚度也會直接影響到薄膜材料的力學(xué)性能，透光性能，磁性能，熱導(dǎo)率，表面結(jié)構(gòu)等。

　　薄膜測厚儀

　　三泉中石CHY-U薄膜測厚儀是一種常用的薄膜厚度檢測方法，采用機械接觸式測量標準，適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準確測量，誤差小，操作簡單方便，滿足GB/T 6672《塑料薄膜和薄片厚度測定 機械測量法》等標準。

　　測試原理

　　將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

　　薄膜測厚儀操作方法介紹

　　根據(jù)國標中的要求，對同一張薄膜選取10個測試點，薄膜厚度測量方法如下：

　　1、將兩個激光傳感器分裝在薄膜試樣的上下方，把傳感器固定在支架上。

　　2、打開儀器，設(shè)置參數(shù)，放置對比量塊，點擊“確認”。

　　3、取走滑塊，重新設(shè)置與步驟(2)相同的參數(shù)，放入薄膜試樣。

　　4、分別取10個不同的點，位置盡量錯開，避免因距離太近影響數(shù)據(jù)。

　　5、測量值通過串口傳輸?shù)接嬎銠C，再通過在計算機上的測厚軟件進行處理，得到目標的厚度值。

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