在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,塑料薄膜、紙張、鋁箔等材料的厚度控制直接關(guān)系到產(chǎn)品的性能、安全性及成本控制。對于材料制造商和質(zhì)檢單位而言,一款精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測量薄膜厚度的儀器是不可或缺的。三泉中石研發(fā)的CHY-HS型測厚儀,憑借高分辨率和符合標(biāo)準(zhǔn)的測試機制,已廣泛應(yīng)用于各類材料的厚度檢測中。
CHY-HS測厚儀專為0-2mm范圍內(nèi)各類材料設(shè)計,適用于薄膜、復(fù)合膜、硬片、金屬箔、紙張等軟質(zhì)與硬質(zhì)材料的厚度測量。儀器采用高精度位移傳感技術(shù),分辨率達0.1μm,可實現(xiàn)連續(xù)、多點、自動化厚度檢測,是薄膜生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機構(gòu)及科研單位的重要測量工具。

CHY-HS測厚儀采用接觸式機械測量原理。測試過程中,截取好尺寸的樣品置于測量平臺,測頭在電控系統(tǒng)的驅(qū)動下自動降落,施加固定壓力,在設(shè)定的接觸面積范圍內(nèi)穩(wěn)定接觸樣品表面,從而獲取準(zhǔn)確的厚度數(shù)值。
這種測試方式確保了在不同材質(zhì)、不同厚度下均能獲得穩(wěn)定可靠的測量結(jié)果,尤其適用于對厚度公差要求嚴(yán)格的材料場景。
為了更清晰地展示CHY-HS的工作方式,以下為其簡化工作結(jié)構(gòu)示意圖:
┌──────────────────────────┐ │ 測量頭(加載壓力) │ └────────▲──────────┘ │ (在設(shè)定壓力下緩慢下降) │ ┌──────┴──────┐ │ 接觸面(50mm2 或 200mm2) │ └──────┬──────┘ │ ┌───▼───┐ │ 試樣 │← 被測材料(薄膜/紙張) └───────┘ │ (測量基座)
測量頭緩慢下降至試樣表面;
在恒定的壓力與接觸面積條件下獲取厚度;
自動完成數(shù)據(jù)采集與顯示。
| 項目 | 參數(shù) |
|---|---|
| 測量范圍 | 0~2mm(可定制) |
| 分辨率 | 0.1μm |
| 測量速度 | 10次/分鐘(可調(diào)) |
| 測量壓力 | 17.5±1kPa(薄膜) 100±1kPa(紙張) |
| 接觸面積 | 50mm2(薄膜) 200mm2(紙張) |
| 進樣步矩 | 0 ~ 1300mm(可調(diào)) |
| 進樣速度 | 0 ~ 120mm/s(可調(diào)) |
| 外形尺寸 | 450mm×340mm×390mm |
| 儀器重量 | 約23kg |
注:薄膜和紙張模式可根據(jù)用戶需求自由切換,滿足不同材料測試要求。
CHY-HS測厚儀嚴(yán)格參照GB/T 6672《塑料薄膜和薄片 厚度測定 機械測量法》**進行設(shè)計與校準(zhǔn),確保測試結(jié)果具備標(biāo)準(zhǔn)化和可比性。
標(biāo)準(zhǔn)測試流程包括:
在(23±2)℃恒溫條件下對試樣進行狀態(tài)調(diào)節(jié);
測量前確保儀器和試樣無油污、灰塵;
每組樣品測量前后均需校驗零點;
測量頭需緩慢放置,避免試樣壓縮變形;
根據(jù)樣品長度測10~30個等距點位,獲取均值和分布。
這一套完整流程,配合CHY-HS的高精度硬件設(shè)計,可大幅提升數(shù)據(jù)的可靠性和復(fù)現(xiàn)性。
在一家高端包裝薄膜生產(chǎn)企業(yè)中,技術(shù)人員通過CHY-HS對每日生產(chǎn)批次進行隨機取樣檢測。憑借其自動化控制和高分辨率感應(yīng)器,儀器幫助企業(yè)將薄膜厚度波動范圍穩(wěn)定控制在±0.002mm以內(nèi),極大提升了產(chǎn)品的一致性和用戶滿意度。
此外,第三方檢測機構(gòu)也頻繁使用CHY-HS進行復(fù)合材料和硬片的合規(guī)檢測,為企業(yè)出具權(quán)威檢測報告。
在精密制造時代,微米級的厚度差異都可能引發(fā)材料性能的變化。選擇一款性能可靠、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確的測量薄膜厚度的儀器,是提升品質(zhì)控制效率的關(guān)鍵。三泉中石CHY-HS測厚儀,正以其實力和穩(wěn)定性贏得越來越多行業(yè)用戶的信任。
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